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線(xiàn)掃鏡頭

E3700
靶面 | 90.0mm |
焦距(mm) | 120.0 |
放大倍率 | -0.50 |
相對通光孔徑 | F5.6-F16 |
分辨率 | 16K5μ |
E3653
靶面 | 66.0mm |
焦距(mm) | 90.0 |
放大倍率 | -0.09 |
相對通光孔徑 | F4.0-F16 |
分辨率 | 12K5μ |

E3690
靶面 | 60.0mm |
焦距(mm) | 38.0 |
放大倍率 | -0.17 |
相對通光孔徑 | F5.6-F16 |
分辨率 | 8K7μ |

E3652
靶面 | 44.0mm |
焦距(mm) | 50.0 |
放大倍率 | -0.22 |
相對通光孔徑 | F2.2-F22 |
分辨率 | 8K5μ |

E3656
靶面 | 43.2mm |
焦距(mm) | 41.5 |
放大倍率 | -0.13 |
相對通光孔徑 | F2.8-F22 |
分辨率 | 8K5μ |

E3681
靶面 | 30.0mm |
焦距(mm) | 20.0 |
放大倍率 | -0.04 |
相對通光孔徑 | F4.5-F16 |
分辨率 | 4K7μ |

主要特征
- 高性?xún)r(jià)比
- 色差校正設計
- 應用于鋰電,PCB,LCD,半導體缺陷檢測
- 高像素,低畸變,支持8K7y,4K12y,16K3.5u
應用領(lǐng)域
機器視覺(jué)領(lǐng)域


主要特征
- 高性?xún)r(jià)比
- 色差校正設計
- 應用于鋰電,PCB,LCD,半導體缺陷檢測
- 高像素,低畸變,支持8K7y,4K12y,16K3.5u
應用領(lǐng)域
機器視覺(jué)領(lǐng)域


主要特征
- 高性?xún)r(jià)比
- 色差校正設計
- 應用于鋰電,PCB,LCD,半導體缺陷檢測
- 高像素,低畸變,支持8K7y,4K12y,16K3.5u
應用領(lǐng)域
機器視覺(jué)領(lǐng)域


主要特征
- 高性?xún)r(jià)比
- 色差校正設計
- 應用于鋰電,PCB,LCD,半導體缺陷檢測
- 高像素,低畸變,支持8K7y,4K12y,16K3.5u
應用領(lǐng)域
機器視覺(jué)領(lǐng)域


主要特征
- 高性?xún)r(jià)比
- 色差校正設計
- 應用于鋰電,PCB,LCD,半導體缺陷檢測
- 高像素,低畸變,支持8K7y,4K12y,16K3.5u
應用領(lǐng)域
機器視覺(jué)領(lǐng)域


主要特征
- 高性?xún)r(jià)比
- 色差校正設計
- 應用于鋰電,PCB,LCD,半導體缺陷檢測
- 高像素,低畸變,支持8K7y,4K12y,16K3.5u
應用領(lǐng)域
機器視覺(jué)領(lǐng)域

定制服務(wù)與技術(shù)支持
作為一個(gè)創(chuàng )新型的光學(xué)解決方案供應商,我們致力于在最短的時(shí)間內,為客戶(hù)提供最高性?xún)r(jià)比的光學(xué)解決方案。
